Фанченко С.С.
Начальник лаборатории
Николаенко А.В.
Заместитель директора - главный ученый секретарь Центра
2020-06-25
2724804
240.000000000000
Способ косвенного измерения отказоустойчивости облучаемых испытательных цифровых микросхем, построенных различными способами постоянного поэлементного резервирования, и функциональная структура испытательной микросхемы, предназначенной для реализации этого способа
Роспатент
Осуществлена государственная регистрация
Изобретение
РОССИЯ