Путролайнен В. В.
доцент КЭиЭ ПетрГУректор
Воронин А. В.
ректор
2020-09-22
199833
120.000000000000
Модульная система электрического и функционального тестирования микросхем NAND-памяти на основе ПЛИС
Роспатент
Осуществлена государственная регистрация
Полезная модель
РОССИЯ