Путролайнен В. В.
доцент КЭиЭ ПетрГУ
Кандидат физико-математических наук
Воронин А. В.
ректор
2019-12-03
194203
120.000000000000
Устройство тестирования микросхем NAND-памяти на основе ПЛИС
Роспатент
Осуществлена государственная регистрация
Полезная модель
РОССИЯ