Суржиков А. П.
Главный научный сотрудник
Доктор физико-математических наук
Степанов И. Б.
Зам. проректора по НР и И
2018-11-23
2018664850
120.000000000000
Определение структурных характеристик материала по данным сканирующей электронной микроскопии методом секущих прямых
Роспатент
Осуществлена государственная регистрация
Программа для ЭВМ
РОССИЯ