Брудный В.Н.
Директор НОЦ «Наноэлектроника» ТГУ
Доктор физико-математических наук
Ворожцов А.Б.
Проректор по научной и инновационной деятельности
2019-10-24
2019630196
Микросхема для проведения DEC тестов при производстве InAlN/GaN HEMT
Роспатент
Осуществлена государственная регистрация
Топология интегральных микросхем
РОССИЯ